產品概述
主要針對OELD產品進行光學參數補償?Demura系統在檢測到規格外的Mura后通過燒錄系統進行補償消除Mura.系統采用多工作作業方式,包含人工上下料,OTP,DeMura等工序,可一站式完成相關作業?
規格參數
● 匹配CIE曲線的彩色濾光片,采集到和人眼匹配的亮度值
● 電動鏡頭,軟件控制聚焦,曝光時間和光圈
● 自帶半導體溫控系統,CCD工作穩定恒定,降低噪聲,提高信噪比
● 多型號,多鏡頭配置,能適用從Micro Display,AR/VR Display,Phone Display,TV等產品
● 多方法校正,完整的校準補償體系
● 科學級的高動態范圍,高信噪比CCD,豐富的產線應用實績
● 軟件算法庫完善,支持目前市面上的各種OLED像素排列
● 軟件自動定位像素位置,自動濾出Morie,自動濾出表面灰塵和劃痕,生成高質量的原始數據
● 模式多樣化,可以支持模組廠算法,IC廠算法,或使用推薦算法?
● 依據需求定制半自動或全自動檢測設備
● 數據自動生成,并上傳服務器數據庫。
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