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                Micro OLED Wafer Final Test Micro LED模組測試

                產品詳情

                產品概述

                MicroLED Final Test: 本設備運用于半導體制程下的Micro LED模組在組裝完成后的光學性能檢測,由中控模塊,信號源,高速CCD,灰度計和SMU等組成的測試系統,其涵蓋點燈,AOI 光學和光學性能等測試?可迅速檢測出后段封裝的產品良率,以避免不良Die流入市場造成成本浪費?


                規格參數

                規格參數

                ● 尺寸規格:客制化設備,依實物為準 

                ● 單工位: L*W*H:385*500*500mm,

                ● 電源:220VAC/10A, CDA:0.4-0.7Mpa  PV:20L/Min

                ● 人工自動上下料

                ● 測試治具-Pogo PIN探針接觸(連接頭材質PEEK,接觸壽命>10000次)—連接頭形狀-依 據客戶產品定制化

                ● 搭載4300MCCD 和5倍放大鏡頭,支持8K分辨率,支持子像素

                ● 搭載Klein Instrument CA-小尺寸測試探頭,支持色度和亮度測試

                ● 主動防震臺,支持VC-D/F等級

                ● Tester PC支持至強CPU,64GDDR,RTX2080獨立顯卡,最高40T硬盤

                ● 搭載 SMRT PG-7502 支持I2C/MIPI等信號

                ● 客制化軟體,支持模組點燈檢查-光學不良檢查-輝度測量-Gamma調整測試

                ● Tact Time:120 Sec/Pcs(依據客戶的芯片實際,Tact Time可能有變動)

                ● 支持CIM&MES系統整合


                Micro OLED Wafer Final Test Micro LED模組測試
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